把U盘放进抽屉，6年不管，你觉得里面的数据还在吗？
有人做了一个长期测试：2019年底，一次性买了 10 个 32GB 的 U盘，写入随机数据后就放进抽屉。此后按计划每隔几年取出一个读取验证。目前进行到第6年，已测试的U盘全部正常，没有出现任何数据损坏。
这个实验，准备进行27年！
目录U盘可靠性实验实验目的试验设备实验内容：错峰读取完整计划实验结果复测U盘一个建议
U盘可靠性实验
这是发布在 reddit/数据囤积者 上的帖子，作者 vanceza 同时也写在了博客中。
实验目的
U盘在“长期断电、不使用”的情况下，数据能保存多久
试验设备
具体为：Kingston Digital DataTraveler SE9 32GB USB 2.0 Flash Drive (DTSE9H/32GBZ)
型号 DTSE9H/32GBZ
条形码 740617206432
WO# 8463411X001
ID 2364
bl 1933
序列号206432TWUS008463411X001005
实验内容：错峰读取
实验采用一种“错峰读取”的方式，实验第一天就用随机数据，写满10个 U盘，存放在抽屉中。
到指定年份，拿出一个U盘进行读取测试（checksum 校验）
同时对较早测试过的U盘进行复测
每次读取后，会把数据重新写入（刷新）
测试年份：1, 2, 3, 4, 6, 8, 11, 15, 20, 27
完整计划
年份首次测试（关键样本）复测并重写的U盘说明11—第1号盘：1年样本221第2号盘：2年样本331,2第3号盘：3年样本441,2,3第4号盘：4年样本5—1,2,3无新样本651,2,3,4第5号盘：6年样本7—1,2,3无新样本861,2,3,4,5第6号盘：8年样本9—1,2,3无新样本10—1,2,3,4,5,6无新样本1171,2,3第7号盘：11年样本12—1,2,3,4,5,6无新样本13—1,2,3无新样本14—1,2,3,4,5,6无新样本1581,2,3,7第8号盘：15年样本16—1,2,3,4,5,6无新样本17—1,2,3无新样本18—1,2,3,4,5,6无新样本19—1,2,3,7,8无新样本2091,2,3,4,5,6第9号盘：20年样本21—1,2,3无新样本22—1,2,3,4,5,6无新样本23—1,2,3,7,8无新样本24—1,2,3,4,5,6无新样本25—1,2,3无新样本26—1,2,3,4,5,6无新样本27101,2,3,7,8第10号盘：27年样本28—1,2,3,4,5,6,9无新样本
实验结果
实验从2019年11月开始，作者在2026年1月发布了第6年的实验结果：
年份首次测试U盘 序号对应闲置时间首次测试结果复测U盘复测结果是否发现bit rot111年正常——否222年正常1正常否333年正常1,2正常否444年正常1,2,3正常否5———1,2,3正常否656年正常1,2,3,4正常否
目前看起来，U盘放6年，没有任何问题。
复测U盘
在实验过程中，有一个复测并重写阶段，可以理解为：
该U盘已经完成任务（限制N年不通电，是否可读取），此后是新任务：当作普通U盘使用，用于持续读写和稳定性验证。
一个建议
另外注意：U盘里的数据，本质上是靠“电荷”存储在闪存单元中的。随着时间推移，这些电荷会慢慢泄漏，原本表示“0”和“1”的电压差逐渐变小。
当这种差异小到一定程度，控制器就可能读错数据，于是就出现了所谓的 bit rot（位错误）。
除了时间：
温度越高，泄漏速度越快
擦写次数越多 → 存储单元老化越严重
所以，隔几年把U盘拿出来读写一次，以防数据丢失。
原文：https://www.appinn.com/usb-flash-drive-data-retention-6-years/